開放包容交流分享|裕太Technicalday-Functioncoverage 圓滿結束
2025-12-24
近日，裕太微研發團隊成功舉辦“Technicalday——Functioncoverage”專題技術研討會。
本次活動圍繞功能覆蓋率建模、測試點分解、驗證閉環流程等關鍵議題展開深入研討，來自
上海、南京、蘇州等多地辦公室的驗證與設計骨干積極參與，共同探索提升驗證效率與完備
性的系統方法。
會議上午場以從“定向測試”到“隨機驗證”，從“盲目摸索”到“精準抵達”為主題，重點探討
了功能覆蓋率在驗證量化管理中的核心價值。與會成員一致認為，傳統依賴代碼覆蓋率與主
觀判斷的驗證方式已難以應對芯片復雜度的提升，必須向基于功能覆蓋率的隨機驗證方法轉
型。通過案例解析，會議明確了從設計規范（spec）出發、構建結構化覆蓋率模型的重要
性，并詳細講解了covergroup、coverpoint、bins與cross等關鍵語法要素，以及權重分
配、采樣位置選擇等實施策略。
下午場聚焦“驗證閉環流程優化”，系統介紹了從設計規范到測試計劃、覆蓋率建模再到
結果反標的完整流程。會議提出了“驗證友好型Spec”理念，強調通過數據流圖、接口描述、
狀態機示意圖等形式提升文檔可驗證性。同時，通過實際案例展示了如何運用等價類劃分、
邊界值分析、應用場景法等系統化方法分解測試點，并實現覆蓋率數據自動反標至測試計劃，
形成可追溯、可量化的驗證閉環。
本次活動延續了裕太Technicalday系列“開放、包容、交流、成長”的宗旨，不僅為技
術人員提供了分享實踐經驗、探討前沿方法的平臺，也進一步打破了部門壁壘，促進了跨團
隊協作與知識共享。未來，裕太微將繼續圍繞驗證方法學、工具鏈整合、流程自動化等方向
開展專題研討，持續推動驗證能力提升與產品高質量交付。
